A.70°
B.60°
C.50°
D.40°
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A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭頻率的提高而提高
C.隨著超聲脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
A.由于缺陷輪廓與底面不平行,很難得到好的擬合結(jié)果
B.由于缺陷末端的信號有時看不到,使擬合難以進行
C.當拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應(yīng)優(yōu)先與信號頂部擬合
D.當拋物線指針與缺陷信號不能全部擬合時,應(yīng)優(yōu)先與缺陷的三分之一信號末端擬合
A.隨著缺陷埋藏深度的增加而降低
B.隨著探頭中心間距增大而降低
C.隨著脈沖寬度的增大而降低
D.以上都對
A.隨著深度的增加而提高
B.隨著探頭中心間距減小而提高
C.隨著脈沖寬度的減小而提高
D.以上都對
A.為減小測量缺陷信號與測量誤差,必須仔細測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號與直通波到達時間之差,則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號到達的絕對時間,則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯誤的
A.用高精度的長度尺反復(fù)測量
B.用專用的激光測距儀反復(fù)測量
C.測量標準試塊上不同深度反射體的信號到達時間
D.測量直通波或者底面波信號尖端信號到達的時間
A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小,隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大,隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小,隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大,隨探頭脈沖寬度減小而增大
最新試題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準反射而進行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
一般認為表面波探測的有效深度約為()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
超聲波探頭上標稱的頻率是()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()