A.用高精度的長度尺反復(fù)測量
B.用專用的激光測距儀反復(fù)測量
C.測量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號到達(dá)時間
D.測量直通波或者底面波信號尖端信號到達(dá)的時間
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A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小，隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大，隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小，隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大，隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小，則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量，時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量，深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值
A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角，角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì)，衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大，低頻部分衰減小，回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降，但回波信號的中心頻率沒有改變
最新試題
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關(guān)于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是（）
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化（）
射線照片上一個細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)（）等信號波，需要仔細(xì)判別。