A.二次波檢測(cè)可以解決焊縫余高過(guò)寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測(cè)可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測(cè)以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測(cè)時(shí)探頭間距不能太大,以確?;夭ㄔ诘撞úㄐ娃D(zhuǎn)換之前到達(dá)
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A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測(cè)
B.檢測(cè)筒體縱焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
C.檢測(cè)筒體環(huán)焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
A.提高缺陷長(zhǎng)度測(cè)量的精度
B.增大有效檢測(cè)范圍
C.消除底面焊縫成形不良的影響
D.有利于發(fā)現(xiàn)焊縫中的橫向缺陷
A.0.85mm
B.0.50mm
C.5.27mm
D.0.23mm
A.在大于50℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
B.在100℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
C.在150℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
D.在200℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測(cè)
A.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,輻射超聲能量越低
B.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,國(guó)投超聲能量越高
C.波束擴(kuò)散越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越大,輻射超聲能量越低
D.波束擴(kuò)散越小,近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,輻射超聲能量越氏
A.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越大,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
B.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越好,上表面盲區(qū)越大
C.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越小
D.近場(chǎng)長(zhǎng)度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
A.窄波束擴(kuò)展來(lái)提高縱向分辨力
B.窄波束擴(kuò)展來(lái)確保受檢區(qū)域的履蓋
C.寬波束來(lái)提高橫向分辨力
D.寬波束來(lái)覆蓋被檢測(cè)的整個(gè)焊縫區(qū)域
A.底面波受干擾
B.單個(gè)衍射信號(hào)在直通波和底面波之間
C.兩個(gè)相反相位的衍射信號(hào)在直通波和底面波之間
D.兩個(gè)相反相位的衍射信號(hào)在直通波和底面波形轉(zhuǎn)換波之間
A.與底面波相位相同,且與直通波相位相反
B.與始脈沖波相位相同,且與底面波相位相反
C.與始脈沖波相位相同,且與直通波相位相反
D.懷直通波相位相同,且與底面波相位相同
A.直通波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
B.始脈沖波、直通波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
C.始脈沖波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
通常所謂20KV的X射線是指()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()