A.試塊上反射體的尺寸誤差對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長(zhǎng)的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
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A.回波頻率變化是由介質(zhì)對(duì)不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對(duì)于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號(hào)中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號(hào)的中心頻率沒(méi)有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測(cè)量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率,實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號(hào)頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測(cè)特性無(wú)關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來(lái)提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價(jià)格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進(jìn)行數(shù)字化采樣的A掃長(zhǎng)度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對(duì)
A.1024Hz
B.256Hz
C.64Hz
D.16Hz
A.TOFD檢測(cè)使用的探頭脈沖更新
B.TOFD檢測(cè)使用的探頭頻帶更寬
C.TOFD檢測(cè)使用的探頭頻率更高
D.TOFD檢測(cè)使用的擴(kuò)散角更大
A.脈沖重復(fù)頻率就是觸發(fā)探頭發(fā)射超聲脈沖數(shù)
B.脈沖重復(fù)頻率就是系統(tǒng)接收存儲(chǔ)的信號(hào)數(shù)
C.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的頻率無(wú)關(guān)
D.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的A掃長(zhǎng)度無(wú)關(guān)
A.電壓過(guò)高使信號(hào)振幅變大,分辨力降低
B.電壓過(guò)高使壓電陶瓷損壞
C.電壓過(guò)高使能耗增大,電池工作時(shí)間減短
D.以上都不對(duì)
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