A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率,實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
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A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價(jià)格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進(jìn)行數(shù)字化采樣的A掃長度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對
A.1024Hz
B.256Hz
C.64Hz
D.16Hz
A.TOFD檢測使用的探頭脈沖更新
B.TOFD檢測使用的探頭頻帶更寬
C.TOFD檢測使用的探頭頻率更高
D.TOFD檢測使用的擴(kuò)散角更大
A.脈沖重復(fù)頻率就是觸發(fā)探頭發(fā)射超聲脈沖數(shù)
B.脈沖重復(fù)頻率就是系統(tǒng)接收存儲的信號數(shù)
C.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的頻率無關(guān)
D.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的A掃長度無關(guān)
A.電壓過高使信號振幅變大,分辨力降低
B.電壓過高使壓電陶瓷損壞
C.電壓過高使能耗增大,電池工作時(shí)間減短
D.以上都不對
A.信號振幅變大,余波變長
B.信號振幅變小,余波減少
C.對信號影響不大
D.以上都不對
A.100ns
B.50ns
C.25ns
D.10ns
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
通常所謂20KV的X射線是指()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會產(chǎn)生特征X射線的。