單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于耦合劑厚度變化對(duì)缺陷深度測量誤差影響的敘述，正確的是（）

A.為減小測量缺陷信號(hào)與測量誤差，必須仔細(xì)測量出所使用的耦合劑厚度
B.如果測量缺陷信號(hào)與直通波到達(dá)時(shí)間之差，則耦合劑引起的缺陷深度測量誤差很小
C.如果測量缺陷信號(hào)到達(dá)的絕對(duì)時(shí)間，則耦合劑引起的測量誤差很小
D.以上敘述都是錯(cuò)誤的


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題校準(zhǔn)探頭間距的有效方法是（）

A.用高精度的長度尺反復(fù)測量
B.用專用的激光測距儀反復(fù)測量
C.測量標(biāo)準(zhǔn)試塊上不同深度反射體的信號(hào)到達(dá)時(shí)間
D.測量直通波或者底面波信號(hào)尖端信號(hào)到達(dá)的時(shí)間

2.單項(xiàng)選擇題探頭中心距的誤差（）

A.對(duì)缺陷深度測量精度影響很大
B.對(duì)缺陷高度測量精度影響很大
C.對(duì)缺陷長度測量精度影響很大
D.對(duì)缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大

3.單項(xiàng)選擇題深度分辨力與以下哪一因素?zé)o關(guān)（）

A.缺陷深度
B.信號(hào)脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸

4.單項(xiàng)選擇題軸偏移深度測量誤差（）

A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在

5.單項(xiàng)選擇題軸偏離底面盲區(qū)（）

A.隨探頭折射角減小而減小，隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大，隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小，隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大，隨探頭脈沖寬度減小而增大

6.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于直通波的盲區(qū)的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小，則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)

7.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于TOFD技術(shù)近表面深度測量誤差的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.近表面深度測量，時(shí)間上一個(gè)很小的誤差會(huì)給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量，深度上一個(gè)很小的誤差會(huì)給時(shí)間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力

8.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于TOFD技術(shù)局限性的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號(hào)淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時(shí)底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)

9.單項(xiàng)選擇題TOFD技術(shù)尺寸測量準(zhǔn)確度誤差的平均值大約為（）

A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值

10.單項(xiàng)選擇題以下關(guān)于TOFD試塊的敘述，錯(cuò)誤的是（）

A.試塊上反射體的尺寸誤差對(duì)檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角，角度為60°