單項選擇題缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
A.絕對大小
B.相等大小
C.相對大小
D.相同大小
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1.單項選擇題直接射向缺陷的波就是（）
A.直通波
B.直射波
C.反射波
D.折射波
2.單項選擇題當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
3.單項選擇題在遠場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無關(guān)
4.單項選擇題在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
5.單項選擇題采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實用AVG曲線。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
6.單項選擇題對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
7.單項選擇題對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
8.單項選擇題對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
A.長度方向
B.周長方向
C.圓周方向
9.單項選擇題對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
A.周長方向
B.長度方向
C.圓周方向
10.單項選擇題掃查方式一般視試件的（）而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
最新試題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：單項選擇題
根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
題型：單項選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：單項選擇題
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
題型：單項選擇題
當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
題型：單項選擇題
在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：單項選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：單項選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
題型：單項選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項選擇題