單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺


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4.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。

A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向

5.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向

6.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的()而定。

A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向

7.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()

A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱(chēng)

8.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。

A.正交;高;偏離
B.正交;低;偏離
C.交叉;高;偏離
D.正交;高;脫離

9.單項(xiàng)選擇題波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()

A.最弱;上升
B.最強(qiáng);下降
C.試驗(yàn);下降
D.正交;高

10.單項(xiàng)選擇題屏高的意義是指回波呈()狀態(tài)時(shí)的高度值。

A.飽和
B.一定
C.不飽和
D.良好

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掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

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對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。

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