A.萬(wàn)用表
B.兆歐表
C.渦流探傷
D.渦流測(cè)試儀
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.基本結(jié)構(gòu)
B.部分組成
C.電流大小
D.電壓大小
A.電路組成
B.電子元件
C.檢查工具
D.電流大小
A.兩個(gè)或兩組線圈
B.三個(gè)或三組線圈
C.一個(gè)或一組線圈
D.四個(gè)或四組線圈
A.兩個(gè)線圈
B.多個(gè)線圈
C.單個(gè)線圈
D.三個(gè)線圈
A.渴流檢測(cè)
B.紅外線檢測(cè)
C.微波檢測(cè)
D.橫波斜檢測(cè)
A.電流
B.磁場(chǎng)
C.滿流
D.電磁
A.絕對(duì)大小
B.相等大小
C.相對(duì)大小
D.相同大小
A.直通波
B.直射波
C.反射波
D.折射波
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無(wú)關(guān)
最新試題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
各類渦流檢測(cè)儀器的工作原理和（）是相同的。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。