A.預(yù)清洗有困難
B.滲透液滲入缺陷有困難
C.去除多余滲透液有困難
D.缺陷觀察有困難
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A.外觀檢驗(yàn)
B.焊接接頭的內(nèi)部缺陷檢驗(yàn)
C.耐壓試驗(yàn)和泄漏試驗(yàn)
D.管道的硬度檢驗(yàn)
A.不宜采用十字接頭
B.不應(yīng)在不銹鋼殼體上直接焊碳鋼支架
C.對(duì)低溫壓力容器和受交變載荷的壓力容器必需采用全焊透的結(jié)構(gòu)
D.可以采用十字接頭
A.圓筒部分的縱向焊縫
B.封頭的拼縫
C.長(zhǎng)頸法蘭與接管連接的接頭
D.嵌入式接管與殼體對(duì)接接頭
A.可用于形狀復(fù)雜的工件
B.同時(shí)可檢測(cè)出幾個(gè)方向的缺陷
C.不需要大型設(shè)備和水電
D.可檢測(cè)出近表面的缺陷
A.工件厚度
B.焦點(diǎn)尺寸
C.射線能量
D.焦距
A.外加磁場(chǎng)的強(qiáng)度
B.材料的磁導(dǎo)率
C.材料的磁感應(yīng)強(qiáng)度
D.缺陷的埋藏深度
A.通過(guò)多個(gè)聲束角度的設(shè)定實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜形狀工件的檢測(cè)
B.通過(guò)動(dòng)態(tài)控制聲束偏轉(zhuǎn),可對(duì)工件全深度進(jìn)行聚焦
C.要想獲得圓弧形波陣面,應(yīng)從左到右等間距激勵(lì)振元
D.可在不移動(dòng)探頭的情況下進(jìn)行扇面掃描,從而提高檢測(cè)效率
A.α射線是一束氦的原子核,帶正電
B.β射線是一束快速運(yùn)動(dòng)的電子,帶負(fù)電
C.γ射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波,不帶電
D.α、β、γ三種射線均不帶電
A.焊接接頭種常見的缺陷是氣孔和冷裂紋
B.母材組織不均勻會(huì)導(dǎo)致噪聲較高
C.焊接接頭晶粒粗大影響檢測(cè)效果
D.應(yīng)使用CSK-ⅡA試塊調(diào)節(jié)靈敏度
A.按管子橫向缺陷的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)
B.利用大K值小晶片短前沿橫波斜探頭進(jìn)行檢測(cè)
C.探頭K值根據(jù)需要確定,當(dāng)一次波掃查不到焊接接頭根部時(shí),可利用三次波檢測(cè)
D.試塊的耦合面曲率應(yīng)與被探管徑相同
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
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對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
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