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單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到（）。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對(duì)

1.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)（）。

A、探頭耦合面幾何尺寸來(lái)決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題采用雙晶直探頭檢驗(yàn)大口徑“管座角焊縫”時(shí)，調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用（）。

A、底波計(jì)算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題直接接觸法探傷可以使用（）。

A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以

4.單項(xiàng)選擇題下列（）晶片發(fā)射縱波的近場(chǎng)區(qū)最長(zhǎng)。

A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm

5.單項(xiàng)選擇題以下（）1MHz探頭通常具有最佳的時(shí)間或垂直距離的分辨力。

A、無(wú)背襯石英探頭
B、帶酚醛樹(shù)脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹(shù)脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹(shù)脂背襯的硫酸鋰探頭

6.單項(xiàng)選擇題2.5PB20Z表示（）。

A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對(duì)

7.單項(xiàng)選擇題A型掃描顯示探傷儀主要由（）組成。

A、電源電路、同步電路
B、發(fā)射電路、時(shí)基掃描電路
C、接收電路、顯示電路
D、以上都是

8.單項(xiàng)選擇題焊縫探傷中探頭角度的選擇主要依據(jù)（）。

A、探測(cè)頻率
B、缺陷方向
C、缺陷部位
D、鋼板的厚度

9.單項(xiàng)選擇題（）g₃₃較大可獲得較高的接收靈敏度。

A、機(jī)電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、壓電電壓常數(shù)
D、機(jī)械品質(zhì)因子

10.單項(xiàng)選擇題（）d₃₃較大，可獲得較高的發(fā)射靈敏度。

A、機(jī)電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、機(jī)械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)