A.H-Φ 關(guān)系
B.M-H 關(guān)系
C.B-H 關(guān)系
D.B-M 關(guān)系
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你可能感興趣的試題
A.化學(xué)成分
B.人工反射體大小
C.熱處理
D.幾何形狀
A.直探頭
B.雙晶直探頭
C.斜探頭
D.雙晶斜探頭
A.型號(hào)
B.擺放位置
C.絲號(hào)
D.規(guī)格
A.銀的絡(luò)合物濃度增大
B.銀的絡(luò)合物濃度減小
C.鹵化物濃度增大
D.鹵化物濃度減小
A.表面有褶紋不得再用
B.人工缺陷的面朝向
C.使用前用溶劑清洗防銹油
D.使用后可用清水清洗
A.空氣
B.地面
C.試件
D.墻壁
A.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生光電效應(yīng)
B.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生電子對(duì)效應(yīng)
C.對(duì)于低能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生光電效應(yīng)
D.射線與物質(zhì)發(fā)生的作用與原子序數(shù)無(wú)關(guān)
A.煤氣
B.乙炔
C.酸
D.硫化氫
A.標(biāo)準(zhǔn)試塊
B.對(duì)比試塊
C.模擬試塊
D.人工試塊
A.環(huán)形件繞電纜法
B.螺管線圈法
C.繞電纜法
D.線圈感應(yīng)電流法
最新試題
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有（）。
磁化曲線是表征鐵磁性材料磁特性的曲線，用以表示（）。
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說(shuō)法，錯(cuò)誤的有（）。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說(shuō)法正確的有（）。
常用的顯像方法包括（）。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類(lèi)鍛件和餅類(lèi)鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類(lèi)鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過(guò)濾掉。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有（）。