A.顯像劑粉是吸附質(zhì)
B.顯像劑粉是吸附劑
C.滲透劑是吸附質(zhì)
D.滲透劑是吸附劑
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.測(cè)量底片反差
B.測(cè)量底片上焊縫黑度
C.測(cè)量熱影響區(qū)黑度
D.測(cè)定底片黑度是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求
A.低碳鋼
B.中碳鋼
C.高碳鋼
D.合金鋼
A.探頭聲束是否有偏離
B.探頭是否有雙峰
C.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷不在探頭正下方
D.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷正好在探頭正下方
A.表面活性劑
B.互溶劑
C.增白劑
D.穩(wěn)定劑
A.噴丸
B.陽(yáng)極化
C.噴漆
D.研磨
A.探測(cè)缺陷尺寸
B.探測(cè)缺陷形狀
C.探測(cè)缺陷位置
D.發(fā)現(xiàn)缺陷大小
A.液氧相溶
B.低硫
C.低氯
D.低氟
A.H-Φ 關(guān)系
B.M-H 關(guān)系
C.B-H 關(guān)系
D.B-M 關(guān)系
A.化學(xué)成分
B.人工反射體大小
C.熱處理
D.幾何形狀
A.直探頭
B.雙晶直探頭
C.斜探頭
D.雙晶斜探頭
最新試題
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像，對(duì)其描述正確的有（）。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí)，會(huì)出現(xiàn)以下（）等現(xiàn)象。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
板波的類型有（）。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時(shí)，水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋，這時(shí)水或水溶液的（）。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有（）。
組成滲透液的物質(zhì)很多，為保證其使用性能，除了主要的紅色染料外，又添加了（）等物質(zhì)。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問題有（）。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。