A.用底波法調(diào)節(jié)靈敏度時(shí),使B5達(dá)50%
B.當(dāng)板厚小于20mm時(shí),應(yīng)以F2來(lái)評(píng)價(jià)缺陷
C.當(dāng)板厚小于20mm時(shí),一般應(yīng)根據(jù)F1波顯示情況,需要時(shí)可以F2來(lái)評(píng)價(jià)缺陷
D.在鋼板邊緣50mm范圍內(nèi)作全面掃查
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A.鋁及鋁合金板材超聲檢測(cè)方法與鋼板的檢測(cè)方法基本相同,靈敏度調(diào)節(jié)方法也基本相同
B.缺陷的判別方法與鋼板缺陷判別方法基本相同
C.測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí),均以探頭中心移動(dòng)距離為缺陷指示長(zhǎng)度,探頭中心點(diǎn)為缺陷的邊界點(diǎn)
D.單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度不記的規(guī)定和相鄰多個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度累計(jì)相加的規(guī)定相同
A.復(fù)合界面始終存在界面回波
B.從復(fù)合層側(cè)檢測(cè),如完全脫節(jié),則無(wú)底波
C.從母材側(cè)檢測(cè),工件中界面波低于試塊中界面波,工件中底波高于試塊中底波,則復(fù)合面為不完全脫節(jié)
D.底波與復(fù)合界面回波高度dB差實(shí)測(cè)值小于理論計(jì)算值,表示存在脫節(jié)
A.應(yīng)針對(duì)具體產(chǎn)品,有明確的工藝參數(shù)和技術(shù)要求;
B.涵蓋本單位產(chǎn)品的檢測(cè)范圍
C.符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)技術(shù)文件和JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求
D.應(yīng)有檢測(cè)記錄、報(bào)告、資料存檔和質(zhì)量等級(jí)分類(lèi)要求
A.對(duì)接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷
B.質(zhì)量等級(jí)是根據(jù)對(duì)接接頭中的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度來(lái)劃分的
C.小徑管的圓形缺陷評(píng)定區(qū)為10mm×10mm,評(píng)定區(qū)大小與母材公稱(chēng)厚度無(wú)關(guān)
D.未焊透缺陷分級(jí)時(shí),對(duì)斷續(xù)未焊透,以未焊透本身的長(zhǎng)度累計(jì)計(jì)算總長(zhǎng)度
A.底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度規(guī)定與檢測(cè)技術(shù)等級(jí)有關(guān)
B.用X射線或γ射線透照小徑管時(shí),AB級(jí)最低黑度允許降至1.5
C.采用多膠片方法時(shí),單片觀察的的黑度應(yīng)不低于1.3
D.若有計(jì)量報(bào)告證明觀片燈亮度滿足要求,可對(duì)D>4.0底片進(jìn)行評(píng)定
A.放置在距焊縫5mm以內(nèi)的部位
B.所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊
C.所有標(biāo)記均應(yīng)放置在源側(cè)工件表面
D.不應(yīng)有干擾有效評(píng)定范圍的影像
A.圓形缺陷評(píng)定區(qū)為一個(gè)與焊縫平行的矩形
B.在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件下,各級(jí)別的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1~2點(diǎn)
C.當(dāng)對(duì)接焊接接頭存在深孔缺陷時(shí),其質(zhì)量級(jí)別應(yīng)評(píng)為Ⅳ級(jí)
D.質(zhì)量等級(jí)為Ⅰ級(jí)和Ⅱ級(jí)對(duì)接焊接接頭,不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè),超過(guò)時(shí)對(duì)接焊接接頭質(zhì)量等級(jí)應(yīng)降低一級(jí)
A.透照厚度
B.焦距
C.黑度
D.顯影時(shí)間
A.是否有危險(xiǎn)性缺陷特征
B.結(jié)合工藝特征分析
C.輔以其他檢測(cè)方法綜合判定
D.觀察動(dòng)態(tài)波形
A.在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域進(jìn)行
B.檢測(cè)面與底面平行
C.選擇表面粗糙的部位
D.取三處測(cè)定的平均值
最新試題
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()