單項(xiàng)選擇題射線(xiàn)照相法是利用X、γ射線(xiàn)穿透工件，以（）作為記錄信息的無(wú)損檢測(cè)方法。

A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評(píng)定尺
D、增感屏


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你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率和（）有關(guān)。

A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路

2.單項(xiàng)選擇題蘭姆波可用于檢查（）。

A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板

3.單項(xiàng)選擇題鋼板探傷中，聲速垂直入射缺陷表面，回波高度（）。

A、粗糙表面回波幅度高
B、無(wú)影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

4.單項(xiàng)選擇題直探頭接觸法探傷時(shí)，底面回波降低或消失的原因是（）。

A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷
D、以上都可能

5.單項(xiàng)選擇題超聲探傷中所謂缺陷的指示長(zhǎng)度，指的是（）。

A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷，采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線(xiàn)的原理相同

7.單項(xiàng)選擇題零件的材料組織或密集的細(xì)小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號(hào)顯示叫做（）。

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波

8.單項(xiàng)選擇題焊縫斜角探傷時(shí)，如采用直射法，應(yīng)該考慮（）等干擾回波的影響。

A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部

9.單項(xiàng)選擇題在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，由于存在著（），所以探傷靈敏度會(huì)明顯偏低。

A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)

10.單項(xiàng)選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時(shí)（）。

A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬

最新試題

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線(xiàn)作成實(shí)用AVG曲線(xiàn)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線(xiàn)進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

（）件對(duì)不同類(lèi)型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種（）方法。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題