A.采集和保存超聲A掃信號(hào)波形
B.發(fā)射超聲波和接收放大回波信號(hào)
C.分析處理數(shù)據(jù),顯示信號(hào)波形和掃查圖像
D.以上都是
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A.夾持探頭
B.沿預(yù)定的軌跡行走,進(jìn)行掃查
C.傳遞探頭的位置信息
D.以上都是
A.采用縱波
B.采用寬波束探頭
C.采用端點(diǎn)衍射信號(hào)
D.采用時(shí)差計(jì)算
A.提高缺陷縱向分辨力
B.提高缺陷橫向分辨力
C.提高信噪比
D.提高缺陷尺寸測量精度
A.±1mm
B.±3mm
C.±5mm
D.±7mm
A.缺陷位置的測量準(zhǔn)確性
B.缺陷長度的測量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
A.提高信號(hào)幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對
A.減少洪水層厚度變化對圖像的影響
B.提高缺陷深度的測量精度
C.提高缺陷長度的測量精度
D.以上都對
A.4個(gè)
B.8個(gè)
C.12個(gè)
D.16個(gè)
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個(gè)
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個(gè)
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個(gè)
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個(gè)
A.信號(hào)非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時(shí)
B.頻率非常高時(shí)
C.工件厚度非常大時(shí)
D.粗晶材料檢測時(shí)
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
發(fā)生康普頓散射的條件是()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()