A.±1mm
B.±3mm
C.±5mm
D.±7mm
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A.缺陷位置的測(cè)量準(zhǔn)確性
B.缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測(cè)量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
A.提高信號(hào)幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對(duì)
A.減少洪水層厚度變化對(duì)圖像的影響
B.提高缺陷深度的測(cè)量精度
C.提高缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量精度
D.以上都對(duì)
A.4個(gè)
B.8個(gè)
C.12個(gè)
D.16個(gè)
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個(gè)
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個(gè)
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個(gè)
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個(gè)
A.信號(hào)非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時(shí)
B.頻率非常高時(shí)
C.工件厚度非常大時(shí)
D.粗晶材料檢測(cè)時(shí)
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
A.超聲信號(hào)中所有大于5M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
B.超聲信號(hào)中所有大于10M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
C.超聲信號(hào)中所有大于20M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
D.不可能發(fā)生混疊
A.18MHz
B.20MHz
C.30MHz
D.60MHz
最新試題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線(xiàn)能量為()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
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射線(xiàn)照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()