A.缺陷位置的測量準(zhǔn)確性
B.缺陷長度的測量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
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A.提高信號幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對
A.減少洪水層厚度變化對圖像的影響
B.提高缺陷深度的測量精度
C.提高缺陷長度的測量精度
D.以上都對
A.4個
B.8個
C.12個
D.16個
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個
A.信號非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時
B.頻率非常高時
C.工件厚度非常大時
D.粗晶材料檢測時
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
A.超聲信號中所有大于5M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
B.超聲信號中所有大于10M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
C.超聲信號中所有大于20M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
D.不可能發(fā)生混疊
A.18MHz
B.20MHz
C.30MHz
D.60MHz
A.采樣率越大,數(shù)字信號相對于模擬信號的失真就越小
B.采樣率越大,計(jì)算機(jī)保存和處理的數(shù)據(jù)量就越大
C.對TOFD技術(shù)來說,每個信號周期大致有5次采樣就可以滿足要求
D.以上都是
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底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
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當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
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在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
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下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點(diǎn)是()