A、預(yù)熱緩冷
B、金屬結(jié)晶過(guò)程
C、焊接熱循環(huán)
D、熱處理
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A、1
B、2
C、3
D、4
A、淬硬組織
B、焊接拉應(yīng)力
C、焊接壓縮應(yīng)力
D、低熔點(diǎn)共晶物和雜質(zhì)
A、10×10
B、10×20
C、10×30
D、以上都不對(duì)
A、最大亮度≥100000cd/m2
B、觀察處的漫射亮度可調(diào)
C、備有遮光板,對(duì)不需要觀察或透光量過(guò)強(qiáng)的部分給予屏蔽
D、以上都是
A、J1
B、J2
C、J3
D、以上都不是
A、60—150
B、50—175
C、40—200
D、以上都不是
A、探傷人員根據(jù)制造廠現(xiàn)有探傷人員和設(shè)備技術(shù)水平
B、設(shè)計(jì)人員
C、檢查人員
D、以上都可以
A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過(guò)38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過(guò)38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來(lái)評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異(如4mm折算成6點(diǎn),4.01mm折算成10點(diǎn)),就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異,因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長(zhǎng),后者缺陷較小,就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷,也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理,應(yīng)評(píng)為不合格,屬于產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題,退修
D、AB是對(duì)的,這屬于照相技術(shù)本身的問(wèn)題,非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問(wèn)題
最新試題
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑,不起乳化作用,需經(jīng)乳化后才能用水清洗,不易被去除,可以用于()的檢驗(yàn)。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有()。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí),會(huì)出現(xiàn)以下()等現(xiàn)象。
滲透檢測(cè)焊縫,對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理,可以采用()。
鋼材的熱處理的一般過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)()。
下列關(guān)于無(wú)限大固體介質(zhì)中聲速的說(shuō)法錯(cuò)誤的有()。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過(guò)濾掉。
影響定影的因素主要有()。
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說(shuō)法,錯(cuò)誤的有()。