A.定影時(shí)間
B.定影配方
C.定影溫度
D.定影時(shí)的攪拌
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A.變形
B.斷裂
C.扭曲
D.拉伸
A.源脫落
B.源卡殼
C.齒輪損壞
D.輸源管接頭連接不良
A.干式顯像
B.非水基濕式顯像
C.濕式顯像
D.自顯象
A.顯像劑粉是吸附質(zhì)
B.顯像劑粉是吸附劑
C.滲透劑是吸附質(zhì)
D.滲透劑是吸附劑
A.測(cè)量底片反差
B.測(cè)量底片上焊縫黑度
C.測(cè)量熱影響區(qū)黑度
D.測(cè)定底片黑度是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求
A.低碳鋼
B.中碳鋼
C.高碳鋼
D.合金鋼
A.探頭聲束是否有偏離
B.探頭是否有雙峰
C.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷不在探頭正下方
D.信號(hào)幅度最小時(shí)缺陷正好在探頭正下方
A.表面活性劑
B.互溶劑
C.增白劑
D.穩(wěn)定劑
A.噴丸
B.陽極化
C.噴漆
D.研磨
A.探測(cè)缺陷尺寸
B.探測(cè)缺陷形狀
C.探測(cè)缺陷位置
D.發(fā)現(xiàn)缺陷大小
最新試題
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng)，X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有（）。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的（），這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
板波的類型有（）。
滲透檢測(cè)體系的分辨力是指滲透檢測(cè)體系（）的能力。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有（）。
軟X 射線管選用鉬作陽極靶，鉬靶和鎢靶比較，（）。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波，在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差，波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián)，所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)（）等現(xiàn)象。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑，不起乳化作用，需經(jīng)乳化后才能用水清洗，不易被去除，可以用于（）的檢驗(yàn)。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)（）要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。