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判斷題探頭型式的選擇也要視具體情況而定，選擇直探頭或斜探頭主要取決于欲發(fā)現(xiàn)缺陷的部位及方位。

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1.判斷題在超聲波檢測(cè)中，超聲波的發(fā)射與接收都是通過(guò)探頭實(shí)現(xiàn)的。探頭種類很多，性能各異，因此，須根據(jù)檢驗(yàn)對(duì)象，合理地選擇探頭。探頭的選擇主要是對(duì)晶片尺寸、角度、頻率等幾個(gè)方面選擇。

參考答案：對(duì)

2.判斷題入射方向的選擇應(yīng)使聲束中心線與缺陷面特別是與最大受力方向垂直的缺陷盡可能地接近垂直。

參考答案：對(duì)

3.判斷題在使用對(duì)比試塊時(shí)，如果對(duì)比試塊與受檢件之間由于表面粗糙度不同或材質(zhì)不同而有聲傳輸特性差異時(shí)，應(yīng)進(jìn)行傳輸修正，修正可通過(guò)將來(lái)自對(duì)比試塊背面的回波幅度和來(lái)自同厚度受檢件背面的回波幅度進(jìn)行比較而確定。修正值超過(guò)±6dB，該對(duì)比試塊不應(yīng)采用。

參考答案：對(duì)

4.判斷題探頭晶片尺寸大時(shí)，近場(chǎng)的覆蓋范圍也大，晶片小時(shí)，近場(chǎng)的覆蓋范圍也小。但在遠(yuǎn)場(chǎng)處由于指向性的關(guān)系，大尺寸晶片的覆蓋范圍有可能小于尺寸晶片。

參考答案：對(duì)

5.判斷題探頭的選擇主要是對(duì)晶片尺寸、角度、頻率等幾個(gè)方面選擇。

參考答案：對(duì)

6.判斷題檢測(cè)條件有頻率、探頭、檢測(cè)部位及其粗糙度、檢測(cè)靈敏度。

參考答案：對(duì)

7.判斷題軸類鍛件的超聲檢測(cè)應(yīng)采用徑向檢驗(yàn)、軸向檢驗(yàn)、斜探頭周向檢驗(yàn)、斜探頭軸向檢驗(yàn)。

參考答案：對(duì)

8.判斷題掃查應(yīng)注意掃查速度、接觸的穩(wěn)定性、方向性、同步與協(xié)調(diào)。

參考答案：對(duì)

9.判斷題掃查一般考慮兩個(gè)原則：一是保證試件的整個(gè)掃查區(qū)有足夠的聲束覆蓋以避免漏檢；二是掃查過(guò)程中聲束入射方向始終符合所規(guī)定的要求。

參考答案：對(duì)

10.判斷題在進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)面上探頭與試件的相對(duì)運(yùn)動(dòng)稱為掃查。

參考答案：對(duì)