單項(xiàng)選擇題特征X射線又稱(chēng)為（）。

A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識(shí)X射線
D、以上都是


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1.單項(xiàng)選擇題原子的組成部分為質(zhì)子、電子和（）。

A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子

2.單項(xiàng)選擇題原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為（）。

A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克

3.單項(xiàng)選擇題射線照相法是利用X、γ射線穿透工件，以（）作為記錄信息的無(wú)損檢測(cè)方法。

A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評(píng)定尺
D、增感屏

4.單項(xiàng)選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率和（）有關(guān)。

A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路

5.單項(xiàng)選擇題蘭姆波可用于檢查（）。

A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板

6.單項(xiàng)選擇題鋼板探傷中，聲速垂直入射缺陷表面，回波高度（）。

A、粗糙表面回波幅度高
B、無(wú)影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能

7.單項(xiàng)選擇題直探頭接觸法探傷時(shí)，底面回波降低或消失的原因是（）。

A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷
D、以上都可能

8.單項(xiàng)選擇題超聲探傷中所謂缺陷的指示長(zhǎng)度，指的是（）。

A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷，采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同

10.單項(xiàng)選擇題零件的材料組織或密集的細(xì)小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號(hào)顯示叫做（）。

A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波

最新試題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。

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渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的工作原理和（）是相同的。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿(mǎn)足需要的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題