A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點源
B.只有源的直徑遠小于探測器距源的距離時才可以將其看做點源
C.只有源的直徑遠小于探測器敏感體積的尺寸時才可以將其看做點源
D.非點源情況下，無法用解析的方法計算探測效率

A.測量開始的時間
B.探測器本征探測效率
C.環(huán)境本底的計數(shù)率
D.源與探測器幾何位置關系

A.相對法需要一個已知活度的源作參照
B.使用相對法測量更加簡便，所以是活度測量的基本方法
C.絕對法復雜一些，要結合各種實際的情況因素進行考慮
D.為保證結果的精確性，使用絕對法測量時可以多次測量進行分析

A.源的活度和能量是常見的輻射探測目標
B.測量源的位置與遠近距離可以用在輻射成像等領域上
C.暫時無法通過測量的信息分析入射粒子的種類
D.可以測量粒子的飛行時間

A.HPGe和Ge（Li）用于組成γ譜儀，Ge較高的密度和原子序數(shù)有利于γ射線探測
B.Si（Li）探測器可以作低能量的γ射線和X射線測量
C.Si（Li）探測器可以作β粒子或其他外部入射的電子的探測，因為它原子序數(shù)低，反散射小
D.Si（Li）探測器也適合測量高能γ射線

A.電流脈沖寬度約為μs量級
B.反符合技術有助于提高探測器峰康比
C.85立方厘米的高純鍺探測器的相對探測效率約為19%
D.能量線性很好

A.不同原因造成的能量展寬需要平方求和在開方，求總體效應
B.載流子統(tǒng)計漲落、漏電流和噪聲均會造成探測器能量分辨率變差
C.不同原因造成的能量展寬可以直接相加求總體效應
D.載流子由于陷阱效應帶來的漲落可以通過適當提高偏置電壓減小

A.平面型探測器，吸收位置不同但是輸出信號基本相同
B.信號脈沖上升時間與入射帶電粒子產生電子-空穴對的位置有關
C.同軸型探測器，吸收位置不同但是輸出信號基本相同
D.輸出電壓脈沖信號是前沿不變的

A.平面型體積較大
B.同軸型體積較小
C.兩者都不需要考慮空間電荷問題
D.對不同的結構形式，靈敏體積內的電場分布不同

A.它需要在低溫下工作
B.它需要在低溫下保存
C.工作時一般不能達到全耗盡狀態(tài)
D.不屬于PN結型探測器