二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線(xiàn)能量為（）

當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足（）

射線(xiàn)照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

影響較大的散射線(xiàn)通常來(lái)自（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn)，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

對(duì)于鉬靶X射線(xiàn)管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的。