A.符合曲線是指延遲關(guān)系變化時(shí)，符合計(jì)數(shù)率的變化曲線
B.信號的時(shí)間離散對符合曲線有影響
C.理想的電子學(xué)瞬時(shí)符合曲線是矩形的
D.符合分快符合與慢符合，快符合的符合曲線寬度主要由電子學(xué)分辨時(shí)間決定
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A.延遲符合改變了相關(guān)事件發(fā)生的物理過程
B.延遲符合的順利實(shí)現(xiàn)需要對相關(guān)事件的物理過程有深入了解
C.延遲符合功能可以通過電子學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的
D.相關(guān)事件不同時(shí)時(shí)，一般可以考慮利用延遲符合技術(shù)
A.反符合電路利用“或”門來實(shí)現(xiàn)
B.反符合中的兩個(gè)事件必須是完全無關(guān)的
C.反符合的功能可以利用多個(gè)探測器實(shí)現(xiàn)
D.反符合與符合在電路設(shè)計(jì)、探測器信號連接上都完全不同
A.這兩個(gè)或多個(gè)事件的發(fā)生是完全相關(guān)的
B.符合分辨時(shí)間是為方便電子學(xué)實(shí)現(xiàn)而引入的，真符合的事件必定發(fā)生在同一時(shí)刻
C.真符合中的兩個(gè)事件發(fā)生的時(shí)刻可以是近似同時(shí)
D.符合電路利用“與”門來實(shí)現(xiàn)
A.符合事件指的是同時(shí)發(fā)生的兩個(gè)或多個(gè)事件
B.同時(shí)發(fā)生的兩個(gè)事件若沒有因果關(guān)系，不能算符合
C.同時(shí)指的是同一時(shí)刻，而不是一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，所以實(shí)際中的符合非常少見
D.符合可以用在粒子甄別上，但是反符合不行
A.坪斜修正可以降低工作電壓偏高對結(jié)果的影響
B.高Z材料會加強(qiáng)反散射效果，所以要用低Z材料做源托
C.β射線在介質(zhì)中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律
D.β射線穿透力強(qiáng)于α粒子，故而不需要考慮源的自吸收問題
A.不能用小立體角法測量
B.需要考慮軔致輻射效應(yīng)
C.需要考慮電子散射問題
D.不需要真空的測量環(huán)境
A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實(shí)際中很少見
C.樣品厚度達(dá)到一定值后，再增大其厚度，測量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的
A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點(diǎn)源處理
A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結(jié)果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射
A.點(diǎn)源情況下的源的形狀
B.探測器的種類
C.探測器的大小尺寸
D.入射粒子的種類
最新試題
測量β射線的活度，下列說法錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于同位素源的特點(diǎn)的描述不正確的是（）。
對偶然符合描述正確的是（）。
下列對中子與原子核的反應(yīng)截面的描述不正確的是（）。
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是（）。
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
幾何因素對探測器測量活度的影響描述正確的是（）。
關(guān)于241Am-9Be中子源的描述不正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯(cuò)誤的是（）。
吸收和散射對探測器活度測量也有影響，下列說法錯(cuò)誤的是（）。