A.光譜干擾比ICP-MS大
B.可在大氣壓下連續(xù)工作
C.不比ICP-MS具有更好的檢出線
D.可測(cè)痕量元素
E.測(cè)量元素種類多
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A.同心霧化器
B.正交型霧化器
C.高鹽量霧化器
D.石英霧化器
E.金屬霧化器
A.冷卻氣
B.輔助氣
C.霧化氣
D.壓縮空氣
E.助燃?xì)?/p>
A.定量分析
B.定性分析
C.半定量分析
D.固體分析
E.氣體分析
A.原子譜線
B.離子譜線
C.分子譜線
D.電子譜線
E.化合物譜線
A.鹽酸
B.硝酸
C.稀王水
D.王水
E.氫氟酸
A.分光系統(tǒng)
B.檢測(cè)系統(tǒng)
C.數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
D.計(jì)算機(jī)
E.進(jìn)樣系統(tǒng)
A.預(yù)熱區(qū)
B.初始輻射區(qū)
C.正常分析區(qū)
D.尾焰區(qū)
E.外焰區(qū)
A.無水高氯酸鎂
B.賽璐璐
C.氧化銅
D.鍍鉑硅膠
E.氧化鈣
A.碳
B.硫
C.氧
D.氮
E.氫
A.碳
B.氫
C.氮
D.氧
E.氟
最新試題
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是（）。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定，分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
ICP光譜干擾包括（）。
選用ICP-AES儀器，同時(shí)可以進(jìn)行（）。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中，可以作為氧化催化劑的試劑有（）。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是（）。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是（）。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí)，所選擇的光譜分析線是（）。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無需任何預(yù)處理。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域，即（）。