超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。