A、源的強度
B、源的尺寸
C、源的使用時間
D、源的種類
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A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
A、64%
B、36%
C、20%
D、80%
A、抑制劑
B、顯影劑
C、加速劑
D、保護劑
A、亞硫酸鈉
B、溴化鉀
C、菲尼酮
D、碳酸鈉
A、加速顯影作用
B、保護顯影作用
C、抑制灰霧生成
D、堅膜作用
A、感光度
B、管電流
C、膠片反差系數(shù)
D、以上都對
A、25
B、12.5
C、6.25
D、3.125
A、1/3
B、1/4
C、1/2
D、3/4
A、射線源尺寸
B、射線源到膠片距離
C、X射線能量
D、X射線強度
最新試題
()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
在遠場區(qū),當缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在()材生產(chǎn)線上的應用最為廣泛。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()