A.極譜波的極限擴(kuò)散電流id
B.極譜波的擴(kuò)散電流i
C.極譜波的峰值電位φ
D.當(dāng)組分和溫度一定時,每一種物質(zhì)的半波電位φ1/2是個定值
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你可能感興趣的試題
A.扣除殘余電流的極限擴(kuò)散電流id或平均極限電流6/7imax與被測物質(zhì)的濃度成正比
B.擴(kuò)散電流i與被測物質(zhì)的濃度成正比
C.半波電位φ1/2與被測物質(zhì)的濃度成反比
D.極限擴(kuò)散電流id與被測物質(zhì)的電極表面濃度C0成正比
A.一種特殊方式的電解方法
B.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由固態(tài)工作電極(如懸汞滴,鉑電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由固態(tài)工作電極(如鉑電極)與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
A.一種特殊方式的電解方法
B.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由固態(tài)工作電極(如懸汞滴,鉑電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
A.一種特殊方式的電解方法
B.由小面積的工作電極與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由大面積的工作電極與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由工作電極與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
A.零類電極
B.玻璃電極
C.銀/氯化銀電極
D.氫標(biāo)準(zhǔn)電極
A.可直接測量某種氣體
B.利用某一氣體與溶液形成化學(xué)平衡后間接測量某一氣體物質(zhì)
C.測量溶液中氣體的分壓
D.直接在氣相中測量某一氣體分壓
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.1-13.5
B.2—10
C.1—12
D.5-5.5
最新試題
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測量的是()。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
ICP光譜干擾包括()。
使用CS600測定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
選用ICP-AES儀器,同時可以進(jìn)行()。
ICP所用的氣動霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
原子熒光光譜法制作工作曲線時,相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。