A.一種特殊方式的電解方法
B.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由固態(tài)工作電極(如懸汞滴,鉑電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由固態(tài)工作電極(如鉑電極)與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
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A.一種特殊方式的電解方法
B.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由固態(tài)工作電極(如懸汞滴,鉑電極)與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由液態(tài)工作電極(如滴汞電極)與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
A.一種特殊方式的電解方法
B.由小面積的工作電極與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
C.由大面積的工作電極與參比電極組成電解池,電解被測物質(zhì)的稀溶液
D.由工作電極與參比電極組成電池,測定試樣物質(zhì)稀溶液的電位
A.零類電極
B.玻璃電極
C.銀/氯化銀電極
D.氫標(biāo)準(zhǔn)電極
A.可直接測量某種氣體
B.利用某一氣體與溶液形成化學(xué)平衡后間接測量某一氣體物質(zhì)
C.測量溶液中氣體的分壓
D.直接在氣相中測量某一氣體分壓
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.陽離子
B.陰離子
C.中性離子
D.都可測定
A.1-13.5
B.2—10
C.1—12
D.5-5.5
A.不需在待測試液或去離子水中浸泡
B.須在待測試液中浸泡活化兩小時(shí)以上
C.在堿性介質(zhì)中浸泡活化兩小時(shí)以上
D.在酸性介質(zhì)中浸泡活化兩小時(shí)以上
A.1-13.5
B.2—10
C.1—12
D.1—10
最新試題
ICP光譜干擾包括()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
ICP-AES法測量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
原子吸收光譜測量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。