A、紅外光<可見光<X射線
B、X射線<可見光<紅外光
C、X射線<紅外光<可見光
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A、NaOH
B、Na2CO3
C、Li2B4O7
D、NaHCO2
A、內(nèi)標法
B、數(shù)學校正法
C、濾波
D、稀釋法
A、正比計數(shù)器
B、閃爍計數(shù)器
C、晶體計數(shù)器
D、半導體探測器
A、X射線管
B、分光室
C、內(nèi)部冷卻水和X光管陰極燈絲
A、14-28℃
B、30±0.15℃
C、24℃
D、24°以上
A、特征光譜
B、帶狀光譜
C、連續(xù)光譜
A、棱鏡
B、光柵
C、分光晶體
D、光電倍增管
A、24V、125mA
B、50V、50mA
C、60V、50mA
D、50V、65mA
A、25nm
B、0.005nm
C、0.5nm
D、100nm
A、折射、
B、光電吸收
C、非相關散射
D、氣體電離和產(chǎn)生閃光。
最新試題
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
LZ50中氧氮含量的測定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
ICP所用的氣動霧化器有三種基本類型,它們分別是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預處理。
紅外吸收法分析碳和硫時,可以用同一個紅外池來檢測。
判定原子吸收光譜測量元素準確度,必須根據(jù)與分析元素結(jié)果相接近的標準樣品測定值。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。