A.14.7°
B.27.2°
C.28.5°
D.45°
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A.厚度
B.聲程
C.彈性模量和密度
D.以上都不對(duì)
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.板波
A.波動(dòng)頻率
B.波長
C.聲阻抗
D.距離
A.SGD曲線
B.GDS曲線
C.SDG曲線
D.DGS曲線
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
A.缺陷的反射幅度低
B.被檢材料表面過分粗糙
C.回波的寬度大
D.以上都對(duì)
A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
C.晶片的材料和厚度
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)
A.鋼鍛件
B.鑄鋼件
C.鋼板
D.上述工件的衰減相同
A.1/2波長的整數(shù)倍
B.1/4波長的奇數(shù)倍
C.1/4波長的整數(shù)倍
D.以上都不對(duì)
最新試題
超聲場(chǎng)中波源軸線上任一點(diǎn)聲壓的幅值與下列()等因素有關(guān)。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的(),這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì),主要作用有()。
確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有()。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有()。
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像,對(duì)其描述正確的有()。
滲透檢測(cè)通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。