一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）