A.缺陷的長度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
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A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測,效率高
B.能同時得到缺陷長度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準確
A.可增大檢測范圍
B.可提高缺陷高度測量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進缺陷定位
A.TOFD衍射信號的振幅顯著下降,缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號的振幅輕微下降,一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號的振幅顯著上升,對檢出有利
D.以上都不對
A.120mm
B.138mm
C.148mm
D.156mm
A.15.3μs
B.18.1μs
C.20.9μs
D.24μs
A.92mm
B.109mm
C.125mm
D.144mm
A.直通波和缺陷上尖端信號相位相同
B.直通波和缺陷下尖端信號相位相同
C.直通波和底面反射波信號相位相同
D.以上都對
A.直通波在兩個探頭之間,沿最短路徑以縱波速度進行傳播
B.直通波是一種特殊的表面波
C.直通波的頻率比聲束中心的頻率低
D.直通波有時可能非常微弱不能識別
A.缺陷的分類
B.缺陷的衍射波和反射波
C.所有縱波
D.所有縱波、所有橫波,以及波形轉(zhuǎn)換后的一部分縱波和一部分橫波
A.縱波的傳播速度快
B.縱波的能量高
C.縱波的波長短
D.縱波的衰減小
最新試題
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
不同材料的相對吸收系數(shù)()
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
底片清晰度與膠片顆粒度的關系是()
光電效應發(fā)生的機率隨什么變化()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。