A.曝光室
B.操作室
C.暗室
D.評(píng)片室
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A.頻率高
B.波長(zhǎng)短
C.波長(zhǎng)長(zhǎng)
D.頻率低
A.γ射線
B.β射線
C.X射線
D.α射線
A.射線能量
B.工件厚度
C.透照角度
D.底片質(zhì)量
A.損害程度與吸收劑量無(wú)關(guān)
B.不存在劑量閾值
C.存在劑量閾值
D.發(fā)生概率與吸收劑量有關(guān)
A.探頭折射角和聲程
B.探頭反射角和聲程
C.缺陷水平方向投影
D.缺陷垂直方向投影
A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.深度分辨力差
D.深度分辨力好
A.擴(kuò)散區(qū)
B.未擴(kuò)散區(qū)
C.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
D.近場(chǎng)區(qū)
A.短橫孔
B.切割槽
C.長(zhǎng)橫孔
D.V 形槽
A.略帶曲折波浪狀紅色細(xì)線條
B.鋸齒狀紅色細(xì)條線
C.直線狀紅色細(xì)線條
D.呈樹枝狀
A.顯影溫度18~20℃
B.定影溫度16~24℃
C.顯影時(shí)間4~6min
D.干燥溫度大于40℃
最新試題
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng)，聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的，所以有（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括（）。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。
利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí)，連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在（）之間為宜。