A.1.0-1.1N
B.1.20-1.35N
C.1.65-1.95N
D.1.96-4.9N
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A.儀器存放柜
B.電腦
C.書(shū)桌
A.液流
B.交變電流
C.整流
D.阻抗流
A.聲阻抗
B.聲波
C.電阻
D.聲音大小
A.疏解波
B.壓縮波
C.反橫向波
D.稠密波
A.精確測(cè)量法
B.簡(jiǎn)略測(cè)量法
C.波高限度法
D.大致限度法
A.接收
B.轉(zhuǎn)化
C.轉(zhuǎn)變
D.固定
A.600A/m
B.700A/m
C.800A/m
D.900A/m
A.實(shí)際尺寸
B.設(shè)計(jì)尺寸
C.儀器準(zhǔn)確率
D.儀器重復(fù)頻率
A.接受強(qiáng)度
B.發(fā)射強(qiáng)度
C.接收強(qiáng)度
D.收到強(qiáng)度
A.使用一周
B.使用期超過(guò)兩周的
C.使用超過(guò)三周
D.使用超過(guò)四周
最新試題
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
掃查方式一般視試件的()而定。