一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。