ICP-AES法測定時，（）法是實際應用最廣泛的校正干擾的數(shù)學法，多數(shù)ICP光譜儀軟件中采用這種方法。

ICP焰炬的一具有適宜的激發(fā)溫度，能使試樣在此既較充分的原子化、激發(fā)、發(fā)射離子線和原子線，背景發(fā)射光譜強度又較低，一般情況下多用此區(qū)進行光譜分析。（）

等離子發(fā)射光譜通常由化學火焰、電火花、電弧、激光和（）激發(fā)而獲得。

ICP光譜儀常用的檢測器有（）和（）兩種。

原子發(fā)射光譜分析過程主要分三步：（）、（）和（）。

電感耦合等離子體焰炬自下而上溫度逐漸升高。

簡述ICP光譜儀的組成。

ICP焰炬通常分成三區(qū)：即（）、（）和（）。

ICP-AES分析中，產生連續(xù)背景的因素有（）、（）、（）和（）4種。

ICP-AES法存在的主要干擾有（）、（）、（）、（）和（）。