A.最小值
B.最小測(cè)量值
C.最大值
D.最大測(cè)量值
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A.1
B.2
C.3
D.4
A.7~9
B.6~9
C.6~8
D.8~9
A.0.2~0.5
B.0.2~0.6
C.0.2~0.4
D.0.4~0.6
A.30
B.35
C.30~35
D.40
A.100
B.150
C.200
D.250
A.“O”型刻槽
B.“+”型刻槽
C.刻槽
D.刻槽面
A.接觸
B.密貼
C.貼合
D.粘貼
A.禁止
B.不能
C.不得
D.可以
A.320
B.330
C.340
D.350
A.不能
B.禁止
C.不得
D.不可以
最新試題
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()