底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）