A.試樣與參比吸收之差
B.試樣與參比吸收之和
C.試樣在1和2處吸收之差
D.試樣在1和2處吸收之和
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A、精細(xì)結(jié)構(gòu)消失
B、精細(xì)結(jié)構(gòu)更明顯
C、位移
D、分裂
A.基態(tài)原子
B.激發(fā)態(tài)原子
C.基態(tài)分子
D.原子核
A.原子吸收光譜
B.紫外分子光譜
C.可見(jiàn)分子光譜
D.紅外光譜
A.光源
B.樣品池
C.單色器
D.檢測(cè)器
A.精細(xì)結(jié)構(gòu)消失
B.精細(xì)結(jié)構(gòu)更明顯
C.位移
D.分裂
A.光源
B.單色器
C.原子化器
D.光路
A.鉻原子吸收359.35nm,發(fā)射357.87nm
B.鉛原子吸收283.31nm,發(fā)射283.31nm
C.鉛原子吸收283.31nm,發(fā)射405.78nm
D.鉈原子吸收377.55nm,發(fā)射535.05nm
A.在保證穩(wěn)定和合適光強(qiáng)輸出的情況下,盡量選用較低的燈電流
B.使用較寬的狹縫寬度
C.盡量提高原子化溫度
D.調(diào)整燃燒器的高度,使測(cè)量光束從基態(tài)原子濃度最大的火焰區(qū)通過(guò)
A.加入釋放劑和保護(hù)劑
B.采用標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.使用高溫火焰
D.配制與被測(cè)試樣組成相似的標(biāo)準(zhǔn)樣品
A.光譜干擾
B.基體干擾
C.背景干擾
D.電離干擾
最新試題
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來(lái)檢測(cè)。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
空心陰極燈的安裝,可以不考慮燈腳的位置,裝上即可。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來(lái)分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí),鐵水試樣必須白口化。