A.鉑電極
B.氟電極
C.玻璃電極
D.銀電極
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.靈敏度高
B.可用于有色渾濁溶液
C.快速
D.準(zhǔn)確度較高
A.曲線的斜率最大點(diǎn)
B.曲線的斜率最小點(diǎn)
C.尖峰狀曲線的尖峰點(diǎn)
D.曲線的轉(zhuǎn)折點(diǎn)
A.曲線的斜率最大點(diǎn)
B.曲線的斜率最小點(diǎn)
C.尖峰狀曲線的尖峰點(diǎn)
D.曲線的轉(zhuǎn)折點(diǎn)
A.曲線的最大斜率點(diǎn)
B.曲線的最小斜率點(diǎn)
C.曲線的斜率為零時(shí)的點(diǎn)
D.ΔE/ΔV為零時(shí)的點(diǎn)
A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.指示劑法
C.二階微商法
D.標(biāo)準(zhǔn)加入法
A.可用于校正干擾值
B.常用來估計(jì)測(cè)量誤差
C.對(duì)確定的響應(yīng)離子i和干擾離子j,它是一個(gè)常數(shù)
D.可通過實(shí)驗(yàn)測(cè)定
A.降低檢測(cè)限
B.擴(kuò)大線性范圍
C.可不加總離子強(qiáng)度調(diào)節(jié)緩沖液
D.提高測(cè)定準(zhǔn)確度
A.玻璃膜外水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
B.玻璃膜內(nèi)側(cè)水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
C.跨越玻璃膜兩側(cè)溶液之間的電位差
D.玻璃電極的電位
A.測(cè)NA+時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差”
B.測(cè)OH-時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差“
C.測(cè)定pH高時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)定pH低時(shí),產(chǎn)生“酸差
D.測(cè)pOH時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)pH時(shí),產(chǎn)生“酸差”
A.會(huì)產(chǎn)生鈉差
B.產(chǎn)生酸誤差
C.測(cè)得的pH值偏低
D.測(cè)得的pH值偏高
最新試題
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
ICP光譜干擾包括()。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是()。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。