A、光電效應(yīng)
B、偏振
C、衍射
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A、氫氧化鈉
B、無(wú)水高氯酸鎂
C、石灰
D、濃硫酸
A、單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化
B、雙點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化
C、多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)化
A、99.99%
B、99.9997%以上
C、99.996%以上
D、90%以上
A、99%
B、99.9%
C、99.996%以上
D、90%以上
A、化學(xué)干擾和電場(chǎng)干擾
B、光譜干擾和非光譜干擾
C、粒子干擾和電磁干擾
D、電磁干擾和輻射干擾
A、最大
B、較小
C、最小
D、較大
A、測(cè)出分析線對(duì)的強(qiáng)度
B、找出被測(cè)元素的最后線
C、選定分析線對(duì)
D、譜線的高度
A、可燃性
B、惰性
C、助燃性
D、自然性
A、HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源→計(jì)算機(jī);
B、主電源→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→HVPS→計(jì)算機(jī);
C、計(jì)算機(jī)→HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源;
D、HVPS→主電源→水泵電源→電子裝置電源→真空泵電源→計(jì)算機(jī);
A、Read instrumentstatus
B、Status Reporter
C、Intrgrated Profile
D、Reset Instrument
最新試題
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時(shí),儀器應(yīng)具備防回火功能。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。