影響較大的散射線通常來自（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來，最主要的是決定于（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）