用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。

對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有（）。

鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。

采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說(shuō)法正確的有（）。

工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行（）。

關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有（）。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

冷裂紋常見(jiàn)的有（）。

單晶體金屬特點(diǎn)有（）。