A.會(huì)使磁場(chǎng)減弱
B.可能產(chǎn)生磁寫
C.可能損傷零件
D.使零件難拿
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A、必須更改圖紙
B、零件必須報(bào)廢
C、發(fā)一份不符合檢驗(yàn)要求的報(bào)告
D、在零件上標(biāo)紅漆等候處理
A.遮蓋
B.濾波器
C.背鉛屏
D.A、B和C
A.射線性質(zhì)與強(qiáng)度
B.離源距離和照射時(shí)間
C.屏蔽材料的種類與厚度
D.輻射源的尺寸和比度
A.避免一切不必要的照射
B.盡量減少受到的照射
C.危害應(yīng)低于得到的利益
D.A、B和C
A.軀體效應(yīng)
B.遠(yuǎn)期效應(yīng)
C.隨機(jī)效應(yīng)
D.非隨機(jī)效應(yīng)
A.效應(yīng)的發(fā)生率與劑量無關(guān)
B.劑量越大效應(yīng)越嚴(yán)重
C.只要限制劑量就可以限制效應(yīng)的發(fā)生
D.A、B和C
A.亞硫酸鈉
B.醋酸
C.硼酸
D.A、B和C
A.0.2%~0.5%的冰醋酸
B.0.5%~2.5%的冰醋酸
C.1.5%~5%的冰醋酸
D.5%~10%的冰醋酸
A.暗室處理過程中的中間水洗不當(dāng)
B.暗室處理過程中的停顯處理不當(dāng)
C.定影時(shí)還有局部區(qū)域繼續(xù)顯影
D.以上都是
A、吸收X軟射線,達(dá)到過濾目的
B、降低工件對(duì)比度,從而增大其寬容度
C、減少由軟射線所引起的散射線
D、以上都是
最新試題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
與一次射線相比,散射線的()。
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說法正確的是()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。