A.隨材料厚度以指數(shù)規(guī)律變化
B.與距離的平方成正比
C.與材料厚度成正比
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A.與材料中的散射強(qiáng)度成正比
B.與射線源的距離平方成正比
C.隨材料的厚度,大致以指數(shù)規(guī)律變化
D.與材料的厚度成正比
A. I=10eμx
B. I=10e-μx
C. 10=Ie-μx
D. I=10e-2μx
A. 與材料中的散射強(qiáng)度成反比
B. 與距離的平方成正比
C. 隨材料厚度以指數(shù)規(guī)律變化
D. 與材料厚度成正比
A. 2.3mm
B. 1.5mm
C. 4.1mm
D. 以上都不對(duì)
A. 射線源的種類或管電壓
B. 被檢材料的種類和密度
C. X光管陽(yáng)極靶的原子序數(shù)
D. 被檢材料的原子序數(shù)
A. 物質(zhì)的密度
B. 物質(zhì)原子序數(shù)
C. 波長(zhǎng)
D. 以上都對(duì)
A. 全部轉(zhuǎn)換
B. 無(wú)轉(zhuǎn)換
C. 轉(zhuǎn)換成電子對(duì)
D. 部分轉(zhuǎn)換
A.康普頓效應(yīng)
B.瑞利效應(yīng)
C.正負(fù)電子
D.電子對(duì)效應(yīng)
A. 產(chǎn)生正負(fù)電子對(duì)
B. 光子的全部能量被轉(zhuǎn)移
C. 光子能量不發(fā)生轉(zhuǎn)移
D. 光子能量部分被轉(zhuǎn)移
A. 光電效應(yīng)
B. 瑞利效應(yīng)
C. 康普頓效應(yīng)
D. 電子對(duì)效應(yīng)
最新試題
顯像劑有助于檢出滯留在缺陷內(nèi)的滲透劑是由于清洗作用。
滲透液中的溶劑應(yīng)該表面張力很大。
熒光探傷檢驗(yàn)零件前需適應(yīng)黑暗的時(shí)間是30 min。
驗(yàn)證滲透劑綜合性能的常用方法是:在具有人工裂紋的A型鋁合金標(biāo)準(zhǔn)試塊上的兩個(gè)部分作對(duì)比試驗(yàn)。
液體的毛細(xì)作用力決定于表面張力與接觸角。
施加熒光滲透劑之前,零件上的酸性材料去除不干凈會(huì)引起在零件上形成永久性銹斑。
乳化劑是用來(lái)乳化油溶性滲透液的,使之能被水洗掉。
將白色粉末狀的顯像材料調(diào)勻在有機(jī)溶劑中,同溶劑去除型滲透液一起使用的顯像方法是快干式顯像法。
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是滲透時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。
溫度過(guò)低時(shí)不能用明火加熱探傷液進(jìn)行探傷。